场发射透射电镜

仪器分类：

成像分析设备

仪器状态：

所属单位：

中国科学技术大学 > 工程与材料科学实验中心 > 微观结构分析实验室

仪器生产商：

日本电子

购置日期：

2018-01-01

使用模式：

委托预约

规格型号：

JEM-2100F

放置房间号：

力四楼110室

仪器管理员：

预约

主要参数	加速电压：200KV 倾斜角（X/Y）：±25° 分析最大厚度：100nm 点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.10nm STEM分辨率：0.20nm
仪器介绍	材料内部显微形貌、结构、晶体结构、位向和物相分析。

主要参数

加速电压：200KV 倾斜角（X/Y）：±25° 分析最大厚度：100nm 点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.10nm STEM分辨率：0.20nm

材料内部显微形貌、结构、晶体结构、位向和物相分析。