高分辨场发射透射电镜

仪器分类：

成像分析设备

仪器状态：

所属单位：

中国科学技术大学 > 工程与材料科学实验中心 > 材料显微分析实验室

仪器生产商：

日本电子

购置日期：

2021-12-01

使用模式：

委托预约

规格型号：

JEM-F200

放置房间号：

力四楼109室

仪器管理员：

柏彧，	email：baiyu@ustc.edu.cn
王惠娟，	email：wanghuij@ustc.edu.cn
田杰，	email：tianjie@ustc.edu.cn

预约

仪器介绍

主要参数	电子枪：冷场场发射电子枪加速电压：20-200KV，连续可调，步长50V 束流：≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size 能量分辨率：≤ 0.3 eV 图像分辨率: TEM点分辨率：≤ 0.23 nm TEM线分辨率：≤ 0.10 nm STEM暗场分辨率：≤ 0.16 nm 放大倍数： TEM模式 ×20 - 2,000,000 STEM模式 ×200 - 150,000,000 标准双倾杆倾斜角度：X/Y ≥ ± 35°/± 30° 能量过滤分析系统: 能量分辨率: ≤ 0.5eV 图像畸变: ≤0.75% 能谱系统：探测器有效面积：≥ 2×100 mm2 能量分辨率：≤ 133 eV 元素检测范围：B-U
仪器介绍	除进行常规的材料内部显微形貌、结构、晶体结构、高分辨成像、晶体位向和物相分析外，还可以利用3D 重构软件对材料的三维结构进行重构；以及利用电子能量损失谱（EELS）表征不同原子及不同原子价态的分布。

主要参数

电子枪：冷场场发射电子枪加速电压：20-200KV，连续可调，步长50V 束流：≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size 能量分辨率：≤ 0.3 eV 图像分辨率: TEM点分辨率：≤ 0.23 nm TEM线分辨率：≤ 0.10 nm STEM暗场分辨率：≤ 0.16 nm 放大倍数： TEM模式 ×20 - 2,000,000 STEM模式 ×200 - 150,000,000 标准双倾杆倾斜角度：X/Y ≥ ± 35°/± 30° 能量过滤分析系统: 能量分辨率: ≤ 0.5eV 图像畸变: ≤0.75% 能谱系统：探测器有效面积：≥ 2×100 mm2 能量分辨率：≤ 133 eV 元素检测范围：B-U

仪器介绍

除进行常规的材料内部显微形貌、结构、晶体结构、高分辨成像、晶体位向和物相分析外，还可以利用3D 重构软件对材料的三维结构进行重构；以及利用电子能量损失谱（EELS）表征不同原子及不同原子价态的分布。